1 、輻射騷擾(RE)測(cè)試

2 、傳導(dǎo)騷擾(CE)測(cè)試

傳導(dǎo)騷擾測(cè)試系統(tǒng)主要測(cè)量受試設(shè)備(EUT)在正常工作狀態(tài)下通過(guò)電源線(xiàn)、信號(hào)端口、控制端口對(duì)周?chē)h(huán)境所產(chǎn)生的騷擾,測(cè)試頻率范圍主要為9kHZ~30MHZ。不同產(chǎn)品的騷擾限值由不同標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,但基本方法是一樣的。系統(tǒng)主要由EMI測(cè)試接收機(jī)、人工電源網(wǎng)絡(luò)(LISN)和EMC測(cè)試軟件組成。其中人工電源網(wǎng)絡(luò)可以在給定的頻率范圍內(nèi),為騷擾電壓的測(cè)量提供標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的50Q阻抗,并使受試設(shè)備(EUT)與電源相互隔離。

3 、諧波電流騷擾(Harmonic)測(cè)試

諧波電流測(cè)試是某一頻率的正弦電壓或電流作用于非線(xiàn)性負(fù)載時(shí)產(chǎn)生的其它頻率的正弦電壓或電流稱(chēng)為諧波電壓或電流,供電系統(tǒng)諧波的定義是對(duì)周期性非正弦電量進(jìn)行傅立葉級(jí)數(shù)分解,除了得到與電網(wǎng)基波頻率的分量,還得到其它一系列整數(shù)倍基波頻率的分量,這部分電量稱(chēng)為諧波,

4、 電壓變化和閃爍(Flicker)測(cè)試

主要測(cè)量EUT引|起的電網(wǎng)電壓的變化。電壓變化產(chǎn)生的干擾影響不僅僅取決于電壓變化的幅度,還取決于它發(fā)生的頻度。電壓變化通常用兩類(lèi)指標(biāo)來(lái)評(píng)價(jià),即電壓波動(dòng)于閃爍。其中電壓波動(dòng)主要反映在電網(wǎng)上突然有較大的電壓變化,一般來(lái)說(shuō),它對(duì)閃爍測(cè)量的影響很小,但是對(duì)同一電網(wǎng)中其它設(shè)備特別是電子設(shè)備的影響可能是很大的。作為閃爍測(cè)量則可以精確評(píng)定連續(xù)電壓波動(dòng)的影響,它可以反映對(duì)人類(lèi)肉眼產(chǎn)生隨時(shí)間變化的光刺激引起的不穩(wěn)定視覺(jué)效果,

5、 靜電放電(ESD)測(cè)試

在電子制造業(yè)中,靜電的來(lái)源是多方面的,如人體、塑料制品、有關(guān)的儀器設(shè)備以及電子元器件本身,人體是重要的靜電源,這主要有三個(gè)方面的原因:1、人體接觸面廣,活動(dòng)范圍大,很容易與帶有靜電荷的物體接觸或摩擦而帶電同時(shí)也有許多機(jī)會(huì)將人體自身所帶的電荷轉(zhuǎn)移到器件上或者通過(guò)器件放電;2、人體與大地之間的電容低,約為50-250pF,典型值為150PF,故少量的人體靜電荷即可導(dǎo)致很高的靜電勢(shì);3、人體的電阻較低,相當(dāng)于良導(dǎo)體,如手到腳之間的電阻只有幾百歐姆,手指產(chǎn)生的接觸電阻為幾千至幾十千歐姆,故人體處于靜電場(chǎng)中也容易感應(yīng)起電,而且人體某一部分帶電即可造成全身帶電。

6、 輻射抗擾度(RS)測(cè)試

RS輻射抗擾度測(cè)試,即抗輻射干擾的能力測(cè)試,主要用于評(píng)估電子設(shè)備在受到外部輻射干擾時(shí),能否保持其功能的穩(wěn)定性和可靠性。根據(jù)國(guó)際電工委員會(huì)(IEC)標(biāo)準(zhǔn)61000系列,RS測(cè)試主要包括靜電放電(ESD)、射頻電場(chǎng)輻射(RS)、傳導(dǎo)干擾(CS)等多種測(cè)試條件,以確保設(shè)備在各種電磁環(huán)境下均能夠正常工作。

7 、雷擊浪涌(Surge)測(cè)試

浪涌測(cè)試(雷擊測(cè)試)目的是為建立一個(gè)共同的基準(zhǔn)以評(píng)定設(shè)備在遭受來(lái)自電力線(xiàn)和互連線(xiàn)上高能量騷擾時(shí)的性能在試驗(yàn)室試驗(yàn)的任務(wù)就是找出EUT在規(guī)定的工作狀態(tài)下工作時(shí),對(duì)由于開(kāi)頭感雷電用所產(chǎn)生的有一定危害電平的浪涌電壓的反應(yīng),

8、 傳導(dǎo)抗擾(CS)測(cè)試

傳導(dǎo)抗擾度測(cè)試(Conducted lmmunity Testing)是電磁兼容性測(cè)試中的一項(xiàng)重要測(cè)試,用于評(píng)估設(shè)備在電源線(xiàn)、信號(hào)線(xiàn)和數(shù)據(jù)線(xiàn)等傳導(dǎo)路徑上的抗干擾能力。在傳導(dǎo)抗擾度測(cè)試中,設(shè)備將暴露在模擬或?qū)嶋H的電磁干擾環(huán)境中,通過(guò)在設(shè)備的電源線(xiàn)或其他傳導(dǎo)線(xiàn)上注入特定的干擾信號(hào),來(lái)模擬真實(shí)世界中可能遇到的干擾情況。通過(guò)觀察設(shè)備的性能和功能,評(píng)估其是否能夠正常工作且不受到干擾。

9、 工頻磁場(chǎng)(PFMF)測(cè)試

工頻磁場(chǎng)抗擾度測(cè)試試驗(yàn)的磁場(chǎng)波形為工頻正弦波形,測(cè)試設(shè)備有試驗(yàn)發(fā)生器、感應(yīng)線(xiàn)圈、接地板等。試驗(yàn)磁場(chǎng)由注入感應(yīng)線(xiàn)圈中的電流產(chǎn)生。參考接地板與實(shí)驗(yàn)室的安全地在一起。試品放在參考接地板上,中間由0.1m厚的絕緣物墊起。試驗(yàn)用的電流發(fā)生器應(yīng)放在離線(xiàn)圈不超過(guò)3m遠(yuǎn)的地方,一端與參考接地板相連。

10、 電壓跌落(DIP)測(cè)試

電壓暫降和電壓中斷是由電網(wǎng)、電力設(shè)施的故障或負(fù)荷突然出現(xiàn)大的變化引起的。電壓變化是由連接到電網(wǎng)的負(fù)荷的連續(xù)變化引起的。如果EUT對(duì)電源電壓的變化不能及時(shí)作出反應(yīng),就有可能引發(fā)故障,本方法適用于額定輸入電流每相不超過(guò)16A、連接到50Hz/60HZ交流電網(wǎng)的電氣和電子設(shè)備,對(duì)于電流大于16A的測(cè)試要求,由IEC61000-4-34標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定。

11、 快速脈沖群(ETF)測(cè)試

? 快速脈沖群(EFT)測(cè)試 ?是一種評(píng)估電子設(shè)備在遭受瞬態(tài)電磁干擾下的性能測(cè)試方法。EFT測(cè)試通過(guò)模擬外部電氣干擾(如雷擊、開(kāi)關(guān)操作等)所導(dǎo)致的瞬態(tài)過(guò)電壓情況,來(lái)驗(yàn)證設(shè)備的電磁兼容性。這種測(cè)試對(duì)于確保設(shè)備在惡劣環(huán)境下的可用性和安全性至關(guān)重要,特別是在工業(yè)自動(dòng)化、通信、醫(yī)療等領(lǐng)域?。